Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
A Low-Cost Reliability vs. Cost Trade-Off Methodology to Selectively Harden Logic Circuits
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BSO - Titre
A Low-Cost Reliability vs. Cost Trade-Off Methodology to Selectively Harden Logic Circuits
XX
DOI
DOI
10.1007/s10836-017-5640-6
XX
DOAI
DOAI
10.1007/s10836-017-5640-6
XX
Identifiant WoS
WOS:000394263500004
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Accès ouvert
OA - Non
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Non OA
XX
Editeur
Springer
XX
Source
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
XX
ISSN
0923-8174
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
1 - Médiocre
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INS2I - Institut des sciences de l'information et de leurs interactions
XX
uid:/5JCK6L4T
12/10/2021 14:52:36 (latest)
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